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Quatre lauréats pour le Prix Yves Rocard 2014 de la Société française de physique (SFP)

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Quatre lauréats pour le Prix Yves Rocard 2014 de la Société française de physique (SFP)

Le prix Yves Rocard 2014 de la SFP a été attribué à Olivier Schneegans (docteur UPMC), Frédéric Houzé (docteur UPMC), Pascal Chrétien et Didier Pellerin, pour le projet Résiscope, fruit d’une étroite collaboration entre des chercheurs et ingénieurs du laboratoire de génie électrique de Paris (LGEP), la société ScienTec et sa filiale de fabrication d’instruments scientifiques SCI.

 

Olivier Schneegans, 43 ans, est ingénieur Supélec (1995) et docteur en physique (spécialité Physique-électronique) de l'UPMC (1998). Son travail de thèse a été à l'origine de la première version « large gamme » du Résiscope. Il a intégré en 1999 le CNRS comme chargé de recherche au sein de l’équipe « Contacts électriques » du laboratoire de génie électrique de Paris (LGEP), où il poursuit et diversifie des travaux de recherche s’appuyant sur les mesures de résistance électrique locale par microscopie AFM. Il a par ailleurs dispensé des enseignements en mathématiques appliquées à l’ENS de Cachan, en microscopie à champ proche (Master M2 « Nanosciences »-université Paris-Sud 11), et en informatique industrielle à l’IUT de Cachan.

 

Frédéric Houzé, 51 ans, est ingénieur Supélec (1986) et docteur en physique (spécialité Sciences des matériaux) de l’UPMC (1990). Il a intégré le CNRS en 1991 comme chargé de recherche au sein de l’équipe « Contacts électriques ». Après avoir étudié pendant quelques années le transport électrique dans l’interface des contacts macroscopiques sur le plan théorique et expérimental, il a développé une nouvelle thématique visant une approche microscopique des phénomènes par le biais des microscopies à sonde locale (STM, puis AFM), qui débouche en 1994 sur le tout premier module de mesure de résistance locale mis au point avec L. Boyer, G. Klimek et R. Meyer. Frédéric Houzé est depuis 2008 responsable de l’équipe « Contacts électriques » du LGEP. Il est par ailleurs membre du bureau « Instrumentation aux limites » du RTRA Triangle de la Physique du Plateau de Saclay et membre du Club Nanométrologie créé par CNano et le LNE. Enfin il est coordinateur du projet ANR P2N « MELAMIN » (2011-2015) dédié au développement d’un Résiscope en contact intermittent.

 

Pascal Chrétien, 55 ans, est titulaire d’un DEST du CNAM (1990). Entré au CNRS en 1983, il est actuellement ingénieur d’études hors classe au LGEP. Spécialisé dans les mesures électriques délicates, il a réalisé pour l’équipe « Contacts électriques » de nombreux dispositifs expérimentaux destinés aux études de connectique mettant en jeu des très faibles signaux ou des environnements difficiles (vibrations, échauffement, corrosion) ; il a par ailleurs piloté régulièrement dans ce domaine des prestations pour des industriels. Pascal Chrétien a également enseigné en Électronique et Informatique Industrielle à l’IUT de Cachan, et intervient dans le cadre du Master M2 « Nanosciences » de l’université Paris-Sud 11. Il est par ailleurs impliqué dans l’animation du réseau régional des électroniciens du CNRS dont il est l’un des fondateurs.

 

Didier Pellerin, ingénieur en électronique, a passé 10 années au sein de la société INSTRUMAT, distributeur notamment de microscopes à force atomique (AFM Digital Instruments). Avec deux associés, Louis Pacheco et Jean-Luc Rondeau, il a créé en 1999 la Société ScienTec qu'il dirige. Afin de séparer les activités ventes et R&D, il crée avec eux en 2006 la société SCI dont il est le gérant. SCI a développé de nombreux accessoires pour un grand fabricant d'AFM. Elle a repris le Résiscope mis au point par le LGEP pour en faire un équipement commercial (Résiscope II). SCI a développé un AFM et après une introduction très réussie en France, commence à le commercialiser dans le monde entier.

 

L’innovation instrumentale

Les années 1980 ont marqué une étape décisive dans l’essor de ce que l’on appelle maintenant les micro- et nanotechnologies, avec l’apparition de nouvelles techniques de microscopie dites « à sonde locale », permettant de caractériser à l’échelle nanométrique différentes propriétés (mécaniques, électriques, magnétiques…) des matériaux. Le microscope à force atomique (AFM) a joué un rôle particulièrement important dans cette révolution, par sa simplicité de mise en Âœuvre à l’atmosphère ambiante, mais surtout par ses nombreuses possibilités d’adaptations pour la mesure simultanée de la topographie des surfaces et d’une grandeur physique auxiliaire. Dans le foisonnement des techniques dérivées qui ont ainsi vu le jour au début des années 1990, l’équipe « Contacts Électriques » du LGEP a fait partie des quelques groupes pionniers dans le développement de mesures de résistances électriques locales à partir de l’AFM.

 

Le prix Yves Rocard

Le prix Yves Rocard est décerné depuis 1992 en mémoire du Professeur Yves Rocard (1903-1992) qui mena non seulement une brillante carrière scientifique mais qui s’impliqua aussi dans des recherches et des développements industriels. Ce prix de la Société française de physique récompense le chercheur, l’ingénieur, le technicien, l’équipe, l’entreprise (groupe industriel ou PME) ou le « couple » inventeur-entreprise à la base de l’innovation ou l’ayant développée ou adaptée. La discipline principale concernée est majoritairement la physique, mais elle est parfois articulée avec d’autres disciplines, particulièrement la biologie ou la médecine. L’une des deux étapes du transfert, la recherche ou l’industrialisation, doit obligatoirement avoir eu lieu en France.



23/02/16